Съобщава се, че Министерството на енергетиката на Съединените щати (DOE) наскоро пусна трети доклад за надеждността на LED драйвера, базиран на дългосрочен ускорен тест за живот. Изследователи на Solid-state Lighting (SSL) от Министерството на енергетиката на Съединените щати смятат, че последните резултати са потвърдили метода на ускорено изпитване под налягане (AST), който е показал добро представяне при различни тежки условия. В допълнение, резултатите от тестовете и измерените фактори на отказ могат да информират разработчиците на драйвери за подходящи стратегии за допълнително подобряване на надеждността.

Както е добре известно, LED драйверите, както и самите LED компоненти, са от решаващо значение за оптималното качество на светлината. Подходящият дизайн на драйвера може да премахне трептенето и да осигури равномерно осветление. И драйверът също е най-вероятният компонент в LED светлините или осветителните тела да се повреди. След като осъзна важността на драйверите, Министерството на енергетиката започна дългосрочен проект за тестване на драйвери през 2017 г. Този проект включва едноканални и многоканални драйвери, които могат да се използват за фиксиране на устройства като жлебове на тавана.

Министерството на енергетиката на Съединените щати публикува преди това два доклада за тестовия процес и напредъка. Сега това е третият доклад с данни от тестове, който включва резултатите от теста на продукта от 6000-7500 часа работа при условия на AST.

Всъщност индустрията няма толкова много време за тестване на дискове в нормални работни среди в продължение на много години. Напротив, Министерството на енергетиката на Съединените щати и неговият изпълнител RTI International са тествали задвижващия механизъм в това, което те наричат ​​среда 7575 – вътрешната влажност и температура се поддържат на 75 °C. Този тест включва два етапа на тестване на водача, независимо от канала. Едностепенният дизайн струва по-малко, но му липсва отделна верига, която първо преобразува AC в DC и след това регулира тока, което е уникално за двустепенния дизайн.

Министерството на енергетиката на Съединените щати съобщи, че при теста на 11 различни устройства всички устройства са работили 1000 часа в среда 7575. Когато устройството е разположено в помещение с околната среда, LED товарът, свързан към устройството, се намира при външни условия на околната среда, така че средата AST засяга само устройството. DOE не свързва времето за работа при условия на AST с времето за работа при нормална среда. Първата партида устройства се провали след 1250 часа работа, въпреки че някои устройства все още работят. След тестване в продължение на 4800 часа, 64% от устройствата се провалиха. Въпреки това, като се има предвид тежката тестова среда, тези резултати вече са много добри.

Изследователите са открили, че повечето неизправности възникват в първия етап на драйвера, особено във веригите за корекция на фактора на мощността (PFC) и веригите за потискане на електромагнитни смущения (EMI). И в двата етапа на драйвера MOSFET-ите също имат грешки. В допълнение към определянето на области като PFC и MOSFET, които могат да подобрят дизайна на драйвера, този AST също така показва, че грешките обикновено могат да бъдат предвидени въз основа на наблюдение на производителността на драйвера. Например, следенето на фактора на мощността и ударния ток може да открие ранни повреди предварително. Увеличаването на мигането също показва, че предстои да възникне неизправност.

От дълго време SSL програмата на DOE провежда важни тестове и изследвания в областта на SSL, включително тестване на продуктов сценарий на приложение по проекта Gateway и тестване на ефективността на комерсиалния продукт по проекта Caliper.